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組織結構分析

高分辨X射線顯微鏡

設備名稱:高分辨X射線顯微鏡(工業CT)

設備廠家:蔡司(德國)

設備型号:Xradia 610 Versa

存放地點:明德樓D102

設備參數/要求:

1、空間分辨率:最佳三維空間分辨率≤0.5μm;當X射線源距樣品旋轉軸50mm時的最佳空間分辨率≤1.0μm;

2、最小可實現的體素(最大放大倍率下樣品的體素大小)≤40 nm;

3、系統必須采用幾何+光學兩級放大的架構,以滿足我單位對大樣品進行局部高分辨率的成像需求。

4、無損傷地對樣品進行三維組織表征,可獲得樣品的三維組織形貌及不同角度、不同位置的虛拟二維切片組織形貌信息。不需制樣或隻需簡單制備,不需真空觀察環境,不會引入人為缺陷

應用範圍:可對各類金屬材料、複合材料、生物組織(動物組織、植物組織)、油氣地質及半導體樣品進行高分辨無損三維成像及組織表征。

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